高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰，可在低电子剂量下呈现样品细节。
全局快门和高帧率（58 fps/全像素模式）设计使其在动态观察过程中原位采集图像。
“SightX”摄像系统控制软件简单易用。
Si3N4高分辨率TEM图像
“数码变焦”可确保成像清晰，在晶格分辨率下同样表现优异。
Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像
利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子，如准晶体的特征。
此外，高动态范围还可提高电子衍射图像的对比度，对高亮度直射光斑或低亮度光斑都有着不俗的表现。
多晶硅TEM图像
以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构。
聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP)树脂TEM图像
利用“数码变焦”可以清晰观察片层结构。
胡萝卜叶TEM图像
可识别叶绿体和线粒体的薄膜结构；此外，还可以观察膜结构细节。
磷脂双分子层（脂质体）TEM图像
可以清晰辨识脂质体的脂质双层膜。
摄像系统控制软件“SightX”
| 加速电压 | ≤ 200kV |
| 有效像素数量 | 1900万像素（5688 *3336） |
| 传感器感光尺寸 | 36.4mm x 21.35mm |
| 像素尺寸 | 6.4um x 6.4um |
| 帧速 | 58fps全像素模式 |
| 记录模式 | 图像，视频 |
| 图像格式 | 大尺寸5688*3366，中等尺寸2880*1680，小尺寸1248*1200 |
| 文件格式 | TIFF、BMP、JPG |
| 快门类型 | 全局快门 |
| 安装位置 | 底部安装（观察室下部），不可伸缩 |
| 控制软件 | SightX 或TEM Center |
适用型号：JEM-F200、JEM-2100Plus、JEM-1400、JEM-2100、JEM-2100F、JEM-2200FS、CRYO ARM™200 (JEM-Z200FSC)
