为全球的高校和科研机构所使用的超高压透射电子显微镜(加速电压为1,000kV)。
三维观察和原位观察实验
由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短，即使增大物镜极靴之间的间隙，也能获得高分辨率的图像。此外，电子束具有很强的穿透能力，即使厚样品也能观察到清晰的图像，这是超高压透射电子显微镜的最大优点。
一般的透射电子显微镜样品由于极薄，失去了块状材料的性质，有效利用超高压透射电子显微镜能观察厚样品的特长，能保持块状样品原来的性质进行观察，特别是充分利用增大物镜极靴之间的间隙所获得的空间，使气体氛围下的原位观察和样品大角度倾斜的三维观察在小型试验室的显微镜内得到了实现。
STEM图像对于厚样品的三维观察非常有效，特别是对微米级厚样品的三维观察能发挥威力。具有这些功能的JEM-ARM1000在新材料的开发和生物医学研究中是不可或缺的装置之一。
JEM-ARM1000被世界各国的研究所、大学等机构用于生物医学、材料开发等尖端科学的研究。
| [分辨率] | |
| STEM | 2.0 nm (1000 kV) |
| TEM (晶格, 点) | 0.16 nm (点, 1000 kV) |
| 0.10 nm (晶格, 1000 kV) | |
| [放大倍率] | |
| STEM | x 20,000 ～ x 2,000,000 |
| TEM | x 200 ～ x 1,200,000 |
| [电子源] | |
| 电子源 | LaB6 |
| 加速电压*2 | 800, 1000 kV |
| [稳定度] | |
| 加速电压 | ≦8 x 10-7/min |
| 物镜电流 | ≦5 x 10-7/min |
| [样品系统] | |
| 样品台 (测角仪) | 全对中样品台 |
| 样品尺寸 | 3 mmφ |
| 最大倾斜角 | *3 |
| 行程范围 (mm) | X, Y: ±1 Z:±0.5 |
| [选配] *4 | |
*1 : 如有特殊要求请另行咨询。
*2 : 其它加速电压, 请另行咨询。
*3 : 该角度高度依赖于样品架的物理尺寸. 请另行咨询。
*4 : 如有特殊要求请另行咨询
