为加强长沙及周边地区从事电子显微技术研究和应用的相关科研院所与企业间的交流，促进电子显微分析新方法、新技术的推广和应用，日本电子株式会社/捷欧路（北京）科贸有限公司联合长沙矿冶研究院于2019年6月25日在该院测试分析研究所共同举办“长沙矿冶研究院-JEOL电子显微分析技术研讨会”。
本次研讨会以“电子显微分析”为主体，涵盖最新的透射电子显微技术、扫描电子显微技术、样品制备等各类电子光学产品在尖端科研中的应用和进展。同时邀请知名专家开展讲座，共同交流，促进相关技术的高层次发展。
本次研讨会上捷欧路（北京）科贸有限公司总经理杉本圭司先生和长沙矿冶研究院有限责任公司分析检测中心主任杨林先生分别做会议致辞，捷欧路首席扫描电镜应用工程师陈青山先生和销售工程师李敏敏先生带来精彩的产品应用和最新技术介绍，中南大学的张鸿教授和吴春萍副研究员等也为大会做高水平的学术报告，同时邀请EDAX产品专家严琴舫女士介绍EBSD在多相材料鉴定中的应用。会后与会老师和同学们参加了超高分辨扫描电子显微镜（型号JSM-7900F）上机演示培训。
下面是会场花絮
1.捷欧路总经理杉本圭司先生做会议致辞
2. 长沙矿冶研究院分测中心主任杨林先生做会议致辞
3. 捷欧路首席扫描电镜工程师陈青山先生介绍日本电子场发射扫描应用实例
4. 中南大学张鸿教授介绍电池中电极材料电化学反应产物的透射电镜研究
5. 中南大学吴春萍副研究员介绍EPMA(JXA-8230)的工作原理及在材料研究中的应用
6. 捷欧路销售工程师李敏敏先生介绍日本电子透射电镜新进展
7. EDAX 产品专家严琴舫女士介绍EDAX EBSD在多相材料鉴定中的应用
8. 上机演示培训
9. 会议圆满结束，合影留念
