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JSM-7200F 热场发射扫描电子显微镜
JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。
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JSM-IT500 扫描电子显微镜
JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新机型。从设定视野到生成报告，用于分析的软件整合于一体，加快了作业速度！是一款无缝操作，使用更加方便的扫描电子显微镜。
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JED-2300/2300F 能谱仪
JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
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JEM-F200 场发射透射电子显微镜
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
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JEM-1000 超高压透射电子显微镜
由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短，即使增大物镜极靴之间的间隙，也能获得高分辨率的图像。此外，电子束具有很强的穿透能力，即使厚样品也能观察到清晰的图像，这是超高压透射电子显微镜的最大优点。
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JEM-2100Plus 透射电子显微镜
JEM-2100Plus电子显微镜，不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统，还增加了最新的控制系统，大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越，操作方便，简明易懂，在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。
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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了最高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。
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EM-05500TGP TEM断层扫描系统
TEM断层扫描系统采用独特算法的软件，实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。
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