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EM-09100IS 离子切片仪
用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也极好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。
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IB-09060CIS™　低温冷冻离子切片仪
易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤。
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Serial Block-face SEM 3View
肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与View®2XP（Gatan公司制造）结合使用，能对样品进行自动切割，自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构，可以对精细结构进行三维分析。
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JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜
JEOL新一代场发射扫描电子显微镜的旗舰机型。 它继承了上一代广获好评的性能如极高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时，操作性能极大简单化。该设备不依赖操作者的技能，始终能够发挥其最佳性能。
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JSM-IT500HR 扫描电子显微镜
JEOL InTouchScope™系列的新机型, 采用新开发的高亮度电子枪和透镜系统，可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率；从设定视野到生成报告，利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。
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JSM-7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜
广受好评的JSM-7610F的光学系统经过改进，实现了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的进一步提升，以崭新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。
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JSM-IT200 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。
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JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜
JCM-7000是以"谁都可以操作的SEM/EDS"为理念的台式扫描电子显微镜， 标配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。新设置了中文操作界面！(选配件)
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JSM-F100 热场发射扫描电子显微镜
JSM-F100集成了备受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和电子光学控制系统Neo Engine，一个新开发的操作GUI“SEM Center”和一个创新的Live-AI filter, 实现了高空间分辨率成像观察和高可操作性。JSM-F100的工作效率比之前的JSM-7000系列高50%或更高。
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