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JSM-IT800 热场发射扫描电子显微镜
JSM-IT800具备高分辨观察和高速元素面分析,能够满足客户的各种需求。该装置配备浸没式肖特基场发射电子枪、新一代电子光学控制系统Neo Engine、一体化EDS、易用的操作导航SEM Center、及可置换的物镜模块。
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JSM-IT700HR InTouchScopet™ 热场发射扫描电子显微镜
日常使用的SEM,好用!该设备最高分辨率1nm、最大探针电流300nA(之前的15倍),可提供丰富的观测和分析信息,用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。
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JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
扫描电子显微镜 (SEM) 不仅是开展科研工作所必不可少的工具,对于需要品控的制造工厂也是不可或缺的。 在这些场景中,用户需要重复执行相同的观察操作,因此快速完成这些操作有助于提高工作效率。JSM-IT510 新增的“简单 SEM”功能,用户可将 SEM 观察所需的“手动重复操作交给它”,从而更高效、更轻松地完成 SEM 观察。
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JED-2300T 能谱仪
JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。
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JEM-1400Flash 透射电子显微镜
JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜。
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JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜
场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合,进一步提高了生物样品的衬度。
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JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜
“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。
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JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜
场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统,能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品,可以任意取出和交换一个或数个样品,能灵活地进行测试排序。
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JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起,实现了高度稳定性和高分辨率,以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单,按照该菜单,操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。
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