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透射电子显微镜
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JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜
“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术（e-ABF法）可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰（衬度）图像。
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JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜
场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品，可以任意取出和交换一个或数个样品，能灵活地进行测试排序。
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JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单，按照该菜单，操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。
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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
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JEM-2100 时间分辨电子显微镜及相关附件
JEOL IDES 产品：飞秒级时间分辨率电子显微镜及其相关附属设备。
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM™ 300相比，具有更高的稳定性、效率和易用性。此外，该系统集多种功能于一体，可以处理从筛样到数据采集的整个过程，从而更灵活地为客户实现量身定做的使用体验。这些改进使用户可以通过简单的操作获得高质量的图像，初学者也可轻松上手。
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SightSKY Camera 光纤耦合CMOS相机
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰，可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率（58 fps/全像素模式）设计使其在动态观察过程中原位采集图像。“SightX”摄像系统控制软件简单易用。
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